信道相关情况下UHF RFID识别性能分析

• 作者: 何怡刚 佘开 朱彦卿 李兵
• 来源期刊: 通信学报
• 学科: 工学
• 关键词: 射频识别技术 识别率 相关信道 广义莱斯衰落模型
• 年，卷（期）: 2018,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 59-67
• 页数: 9页
• 分类号: TN925.93
• 字数: 6325字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11959/j.issn.1000-436x.2018123

摘要

针对UHF RFID系统识别率受电波多径传播制约的问题,研究了前向与反向相关信道对系统识别性能的影响.将信道分为独立、相关和完全相关3种情形,基于广义莱斯衰落信道模型,推导了识别率的解析计算式.与现有分析相比,此分析给出了任意相关系数和多种信道条件下识别率统一的计算式.仿真实验表明,不同相关系数、信道条件、灵敏度和距离对识别率有影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李兵	武汉大学电气工程学院	106	943	14.0	27.0
2	佘开	湖南科技大学物理与电子科学学院	4	15	2.0	3.0
3	朱彦卿	湖南大学电气与信息工程学院	22	358	10.0	18.0
4	何怡刚	武汉大学电气工程学院	8	4	1.0	1.0