界面结构对触头可靠性影响的研究

• 作者: 吴明星 周芳 曹伟产 马朋涛
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: CuW合金 触头 强度 断口
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TM201.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16786/j.cnki.1671-8887.eem.2018.04.002

摘要

以CuW-CuCr触头为研究对象,采用模拟仿真计算了CuW-CuCr触头不同界面结构时其界面的受力情况,同时验证了不同界面结构的触头的界面强度.结果表明,触头的CuW部分与CuCr界面的结合形式直接决定着界面处受力的大小,可以通过改变界面处的结合结构来改变界面处的受力.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴明星		6	3	1.0	1.0
2	曹伟产		18	5	1.0	2.0
3	马朋涛		4	0	0.0	0.0
4	周芳		4	4	1.0	2.0