钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
null期刊
\
电子产品可靠性与环境试验期刊
\
环境湿气对BGA可靠性影响案例分析
环境湿气对BGA可靠性影响案例分析
作者:
郭辉
阮熙仑
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
环境湿气
失效分析
金相切片
声学扫描
摘要:
作为PCBA中最重要的封装元件之一,BGA器件对于保障PCBA的质量与可靠性具有重要的作用.因此,分析BGA器件的失效现象并制定相应的解决措施具有重要的意义.利用X-Ray检测、 染色渗透检测、金相切片分析和声学扫描分析等方法对BGA器件的功能失效现象进行了详细的分析,找到了器件失效的原因,对于避免类似失效现象再次发生,保证器件的可靠性具有一定的意义.
免费获取
收藏
引用
分享
推荐文章
行星际空间环境对探测器可靠性影响分析
行星际探测器
空间环境
极端温度
辐射环境
综合环境
孔洞对BGA封装焊点热疲劳可靠性影响的概率分析
BGA封装
焊点
孔洞
有限元
概率分析
热疲劳可靠性
舰艇环境下弹药的可靠性分析
舰艇
Weibull分布
置信度
储存寿命
BGA焊点可靠性工艺研究
焊球阵列封装
焊点
空洞
剪切强度
内容分析
文献信息
版权信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
环境湿气对BGA可靠性影响案例分析
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
环境湿气
失效分析
金相切片
声学扫描
年,卷(期)
2018,(2)
所属期刊栏目
可靠性物理与失效分析技术
研究方向
页码范围
37-40
页数
4页
分类号
TB114.35
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2018.02.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
郭辉
2
3
1.0
1.0
2
阮熙仑
1
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
全文.pdf
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(7)
参考文献
(4)
节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2000(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2001(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2003(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2005(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2018(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
环境湿气
失效分析
金相切片
声学扫描
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
期刊文献
相关文献
1.
行星际空间环境对探测器可靠性影响分析
2.
孔洞对BGA封装焊点热疲劳可靠性影响的概率分析
3.
舰艇环境下弹药的可靠性分析
4.
BGA焊点可靠性工艺研究
5.
环境试验与可靠性试验的关系
6.
BGA焊接可靠性分析及工艺改进
7.
软件可靠性与硬件可靠性分析及对比
8.
阵地环境下引信贮存可靠性研究
9.
阵地环境下底火贮存可靠性研究
10.
放电连接装置环境可靠性测试与失效分析
11.
海洋环境对舰载导弹贮存可靠性影响分析
12.
力学环境约束下剪切销可靠性分析及优化设计
13.
机载相控阵雷达软件可靠性测评环境建设
14.
环境试验与可靠性试验的关系及其应用
15.
环境试验与可靠性试验的关系
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
电子产品可靠性与环境试验2022
电子产品可靠性与环境试验2001
电子产品可靠性与环境试验2002
电子产品可靠性与环境试验2003
电子产品可靠性与环境试验2004
电子产品可靠性与环境试验2005
电子产品可靠性与环境试验2006
电子产品可靠性与环境试验2007
电子产品可靠性与环境试验2008
电子产品可靠性与环境试验2009
电子产品可靠性与环境试验2010
电子产品可靠性与环境试验2011
电子产品可靠性与环境试验2012
电子产品可靠性与环境试验2013
电子产品可靠性与环境试验2014
电子产品可靠性与环境试验2015
电子产品可靠性与环境试验2016
电子产品可靠性与环境试验2017
电子产品可靠性与环境试验2018
电子产品可靠性与环境试验2019
电子产品可靠性与环境试验2018年第3期
电子产品可靠性与环境试验2018年第1期
电子产品可靠性与环境试验2018年第4期
电子产品可靠性与环境试验2018年第2期
电子产品可靠性与环境试验2018年第6期
电子产品可靠性与环境试验2018年第5期
电子产品可靠性与环境试验2018年第z1期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号