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摘要:
基于微电子机械系统(MEMS)技术的环形、矩形以及I2形谐振器由于具有较高的谐振频率与品质因数等优点,可作为原子力显微镜(AFM)探针用于物理表面高速成像实验.在结构尺寸近似的情况下,对影响上述三种MEMS探针性能的谐振频率、有效刚度以及品质因数等关键指标进行综合分析与比较.在此基础上,对上述MEMS探针的力灵敏度进行了评估.结果表明,环形MEMS探针适用于对柔性物体的高精度成像,而I2形MEMS探针则更适合于对大范围区域的高速实时成像.通过对机械结构与检测电路的进一步优化,MEMS探针的力灵敏度有望达到并超越现有悬臂式探针的水平.
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文献信息
篇名 环形、矩形及I2形MEMS原子力显微镜探针的力灵敏度
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 微电子机械系统(MEMS) 谐振器 力灵敏度 原子力显微镜(AFM)探针 品质因数 谐振频率
年,卷(期) 2018,(5) 所属期刊栏目 加工、测量与设备
研究方向 页码范围 351-358
页数 8页 分类号 TH742.9
字数 语种 中文
DOI 10.13250/j.cnki.wndz.2018.05.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张照云 中国工程物理研究院电子工程研究所 13 18 2.0 3.0
2 熊壮 中国工程物理研究院电子工程研究所 13 11 2.0 2.0
3 屈明山 中国工程物理研究院电子工程研究所 4 5 1.0 1.0
4 杨荷 中国工程物理研究院电子工程研究所 7 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
微电子机械系统(MEMS)
谐振器
力灵敏度
原子力显微镜(AFM)探针
品质因数
谐振频率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
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3266
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