对数正态分布条件下某光耦步进加速退化试验优化设计

• 作者: 冯静 张烜工 穆希辉
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 工学
• 关键词: 光电耦合器 加速退化 优化设计 对数正态分布 蒙特卡罗仿真
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 106-111
• 页数: 6页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 6013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2018.11.021

摘要

针对目前步进加速退化试验仿真基优化设计往往指定产品寿命服从威布尔分布的问题,研究了寿命服从对数正态分布前提下的仿真基步进加速退化试验的优化设计算法.首先给出了仿真基优化的理论框架,推导了光耦步进退化加速试验的统计分析模型,之后对现有的仿真基方法进行改进,提出了改进的仿真基步进加速退化试验优化设计算法.通过对某光耦进行步进加速退化试验优化设计,验证了所提改进仿真基方法的有效性和可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯静		3	0	0.0	0.0