子系统级的DFT验证平台搭建

• 作者: 刘翊 王成伟 祝媛 邱天琦
• 来源期刊: 中国集成电路
• 关键词: 可测性设计 子系统 验证平台
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 41-47
• 页数: 7页
• 字数: 4444字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2018.11.010

摘要

本文提出了一个基于子系统的可测性设计(DFT)验证平台,首先,介绍了可测性设计技术的基本原理,主要方法以及相关协议;其次,介绍了片上系统级的DFT测试平台,通过对其分析提出搭建子系统级DFT验证平台的必要性;最后,详细介绍了子系统级DFT验证平台的实现,包括其原理、实现方式及其测试结果等.该子系统级DFT验证平台可将DFT验证进场作业时间点提前,并且具有收敛速度快、易于搭建等特点,对系统级DFT验证具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王成伟		3	1	1.0	1.0
2	刘翊		1	1	1.0	1.0
3	祝媛		1	1	1.0	1.0
4	邱天琦		1	1	1.0	1.0