钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
null期刊
\
电子产品可靠性与环境试验期刊
\
Sigma Designs发运第1亿个Z-Wavd芯片组模块
Sigma Designs发运第1亿个Z-Wavd芯片组模块
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
摘要:
免费获取
收藏
引用
分享
推荐文章
Sigma Designs公司将推出HDR 10+标准STV 7803/4 UHD HDR芯片组
基于RDA3300芯片组的终端射频模块电路设计
SCDMA
接收LOW_IF
发射直接变频
频率综合器
基于Intel 815E芯片组的PCI-104 CPU模块设计
PC/104
PCI-104
Intel 815E芯片组
CPU模块设计
基于Intel 855GM芯片组的PCI-104 CPU模块设计
PC/104
PCI-104
Intel 855GM芯片组
CPU模块设计
内容分析
文献信息
版权信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
Sigma Designs发运第1亿个Z-Wavd芯片组模块
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
年,卷(期)
2018,(z1)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性标准信息与行业动态
研究方向
页码范围
268
页数
1页
分类号
字数
语种
中文
DOI
五维指标
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
全文.pdf
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
参考文献
(0)
节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2018(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
期刊文献
相关文献
1.
Sigma Designs公司将推出HDR 10+标准STV 7803/4 UHD HDR芯片组
2.
基于RDA3300芯片组的终端射频模块电路设计
3.
基于Intel 815E芯片组的PCI-104 CPU模块设计
4.
基于Intel 855GM芯片组的PCI-104 CPU模块设计
5.
龙芯2E多处理器芯片组的设计与实现
6.
基于RFW102芯片组的短距离无线数据传输系统的实现
7.
Sigma Designs通过Z-Wave SmartStart轻松实现安全的互操作性
8.
Sigma Designs通过Z-Wave SmartStart轻松实现安全的互操作性
9.
光电鼠标芯片组在无接触检测运动物体中的应用
10.
采用新型多层基板的多芯片组件封装技术
11.
一种可集成于电池组检测芯片的Sigma-DeltaA/D转换器
12.
多芯片组件热分析技术研究
13.
PC芯片组市场增长势头强劲
14.
多芯片组件(MCM)可靠性技术探讨
15.
Intel芯片组初探
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
电子产品可靠性与环境试验2022
电子产品可靠性与环境试验2001
电子产品可靠性与环境试验2002
电子产品可靠性与环境试验2003
电子产品可靠性与环境试验2004
电子产品可靠性与环境试验2005
电子产品可靠性与环境试验2006
电子产品可靠性与环境试验2007
电子产品可靠性与环境试验2008
电子产品可靠性与环境试验2009
电子产品可靠性与环境试验2010
电子产品可靠性与环境试验2011
电子产品可靠性与环境试验2012
电子产品可靠性与环境试验2013
电子产品可靠性与环境试验2014
电子产品可靠性与环境试验2015
电子产品可靠性与环境试验2016
电子产品可靠性与环境试验2017
电子产品可靠性与环境试验2018
电子产品可靠性与环境试验2019
电子产品可靠性与环境试验2018年第3期
电子产品可靠性与环境试验2018年第1期
电子产品可靠性与环境试验2018年第4期
电子产品可靠性与环境试验2018年第2期
电子产品可靠性与环境试验2018年第6期
电子产品可靠性与环境试验2018年第5期
电子产品可靠性与环境试验2018年第z1期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号