电容式电子测压器的边缘效应分析

• 作者: 吴哲琼 王雪姣 范锦彪
• 来源期刊: 中国测试
• 关键词: 电容传感器 边缘效应 同轴柱状 Maxwell
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 性能测试
• 页码范围: 142-146
• 页数: 5页
• 字数: 2286字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2018.05.027

摘要

为克服电容式传感器的边缘效应问题,提高电容式电子测压器的测量精度,将测压器简化成同轴柱状电容,利用Ansoft Maxwell软件对同轴柱状电容的结构参数进行仿真,主要包括内外筒的轴向长度、外筒厚度、内筒厚度、内外筒间距4个参数,通过Matlab进行数据处理,分析在不同参数下电容传感器电容的变化情况,为后续对电容式电子测压器的结构参数优化提供依据.仿真结果表明:对传感器测试性能影响较大的是内外筒的轴向长度和内外筒的间距,内外筒轴向长度越长、筒间距越小边缘效应越小;内、外筒的厚度对测量精度也有一定影响,厚度越大边缘效应影响越大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	范锦彪	中北大学电子测试技术国家重点实验室	112	729	15.0	22.0
5	王雪姣	中北大学电子测试技术国家重点实验室	4	2	1.0	1.0
9	吴哲琼	中北大学电子测试技术国家重点实验室	2	3	1.0	1.0