基于时间序列模型的残差控制图在MAP中的应用

• 作者: 丁宸宇 岳瑞华 李远东 顾凡
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 工学
• 关键词: MAP 导弹综合测试设备 残差控制图 时间序列 自相关过程 SPC
• 年，卷（期）: 2018,（10）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 100-103,107
• 页数: 5页
• 分类号: TP29
• 字数: 3817字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2018.10.020

摘要

针对在MAP中,测控设备高频率地采集数据导致数据呈现时序依赖性,难以满足传统控制图要求的数据间相互独立的问题,提出根据时间序列原理用受控状态下观测数据估计模拟出自回归模型AR(p),求出服从独立同分布的观测值残差,建立控制图.为进一步说明残差控制图的有效性,通过真实数据求出残差控制图并与休哈特控制图进行比较,结果表明,残差控制图的虚假警报明显减少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁宸宇		4	1	1.0	1.0
2	岳瑞华		9	5	1.0	2.0
3	李远东		1	0	0.0	0.0
4	顾凡		6	6	1.0	2.0