探究芯片环境温度Ta及芯片壳体温度Tc值

• 作者: 夏兵 易艳春 汤恒
• 来源期刊: 舰船电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片环境温度(即芯片工作温度) 芯片壳体温度 芯片热边界层 热阻
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 结构与工艺
• 页码范围: 195-199
• 页数: 5页
• 分类号: TN409
• 字数: 2548字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9730.2018.12.047

摘要

实际工作中,很多电子产品热设计工程师误将测得的芯片壳体温度当做芯片的环境温度(即芯片工作温度),从而导致对热设计结果的误判,或导致热设计冗余量过大后使设备成本不恰当地被提高.为了避免此类问题的再次发生,论文引入热边界层理论探究芯片环境温度和芯片壳体温度.论文从多个层面介绍了有效获取芯片环境温度及芯片壳体温度的方法.由于芯片表面或散热器表面热边界层的客观存在,不可避免地在芯片壳体与边界层外的空气之间产生一定的热阻,使得芯片厂家提供的芯片工作温度必然低于芯片壳体温度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易艳春		21	65	5.0	7.0
2	汤恒		1	0	0.0	0.0
3	夏兵		1	0	0.0	0.0