耐压薄壁组件失效分析研究

• 作者: 王祥 罗锡
• 来源期刊: 机械研究与应用
• 关键词: 耐压薄壁组件 失效分析 X-Ray SEM&EDS
• 年，卷（期）: 2018,（4）
• 所属期刊栏目: 材料加工
• 页码范围: 163-165,169
• 页数: 4页
• 分类号: TB303
• 语种: 中文
• DOI: 10.16576/j.cnki.1007-4414.2018.04.055

摘要

通过对耐压薄壁组件失效故障件的分析,介绍了对耐压薄壁组件分析的过程和方法,通过采用X-Ray测试,金相分析,SEM(扫描电镜)&EDS(能谱仪)等分析措施,得出了引起耐压薄壁组件鼓包失效的主要原因,为后续工艺改进提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王祥		3	0	0.0	0.0
2	罗锡		4	0	0.0	0.0