基于混合离散二进制粒子群—遗传算法的测试配置方法研究

• 作者: 史贤俊 秦玉峰 郭家豪
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 测试性模型 测试配置 二进制粒子群算法 遗传算法
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 42-45,149
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2018.12.011

摘要

针对目前测试性建模工作中尚无具体方法指导测试配置这一问题,通过对系统内故障传播关系进行分析,提出了一种混合离散二进制粒子群—遗传算法用于求解测试配置的最优方案,使系统的测试性模型在满足规定测试性指标下使用的测试数量最少;将系统测试配置方案进行二进制粒子编码,并在粒子群算法中引入遗传算子,使混合算法具有较快的搜索速度的同时避免陷入局部最优;最后通过实例计算与仿真,证明所提出算法计算结果正确且对于指导复杂系统测试性建模工作具有实际应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史贤俊	海军航空大学岸防兵学院	93	486	11.0	18.0
2	秦玉峰	海军航空大学岸防兵学院	3	3	1.0	1.0
3	郭家豪	海军航空大学岸防兵学院	2	2	1.0	1.0