保温时间对CaCu3Ti4O12电容压敏电阻介电特性和非欧姆行为的影响

• 作者: 李建云 李芸华 胡胜龙
• 来源期刊: 信息记录材料
• 学科: 其他
• 关键词: CCTO 溶胶-凝胶法 肖特基势垒 I-V行为
• 年，卷（期）: 2018,（12）
• 所属期刊栏目: 综述·论著
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 分类号: O044
• 字数: 1832字
• 语种: 中文

摘要

采用溶胶-凝胶法制备了具有非欧姆电性能的巨介电陶瓷CaCu3Ti4O12(CCTO).用X射线衍射和扫描电镜对陶瓷的晶体结构和显微结构进行了表征.通过测量介电常数、I-V和晶界势垒特性,研究了烧结时间和冷却速度对陶瓷电性能的影响.保温时间的延长使样品的介电常数有了很大的提高,而且淬火样品的介电常数比炉冷样品大.研究了不同温度下电流密度(J)与外加电场(E)之间的非欧姆行为.得到了击穿电压范围为Eb=0.2～3kVcm-1,非线性系数a=2～6,介电常数e=4,000～30,000的低压大介电常数CCTO压敏电阻.ln(J)与E1/2的线性关系表明,在晶界处应存在肖特基势垒.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建云		13	4	1.0	2.0
2	李芸华		20	4	1.0	1.0
3	胡胜龙		18	5	1.0	2.0