基于POF的塑封光电耦合器贮存寿命评价方法研究

• 作者: 杨达明 熊园园 高成
• 来源期刊: 电子测试
• 关键词: 塑封光耦 贮存寿命 寿命模型 失效机理
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 45-46
• 页数: 2页
• 字数: 1700字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2018.02.020

摘要

塑封光耦作为信号传输中的隔离器件而广泛应用于武器装备中,其贮存寿命影响着武器装备能不能正常投入使用,因此开展光耦贮存寿命评价方法研究是一项重要的工作.针对光耦目前缺少相应的寿命模型,贮存失效机理不清等问题,本文基于POF建立塑封光耦寿命模型来评价正常贮存环境下的寿命.在全面分析塑封光耦的击穿机理的基础上,建立光耦寿命模型,并通过模型计算TLP250型号的塑封光耦正常贮存环境下的寿命,为塑封光耦的寿命评价提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高成	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	42	195	8.0	13.0
2	杨达明	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	4	3	1.0	1.0
3	熊园园	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	1	2	1.0	1.0