电子元器件制造中非正态工艺参数的质量控制与评价探讨

• 作者: 王晋荣 许波 谭思亮
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 非正态工艺参数 质量控制
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与材料
• 页码范围: 4-5,14
• 页数: 3页
• 分类号: TN605
• 字数: 2040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.10.002

摘要

目前已有的先进技术能够保证电子产品质量,但是由于一些特殊工序的生产特点,导致电子元器件在制造的过程中其工艺参数与正态分布不一致,影响降低了电子元器件的可靠性和稳定性,本文主要对电子元器件制造中非正态工艺参数的质量控制与评价进行了研究,希望能够提供一定的参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭思亮	中国电子科技集团公司第二十六研究所	5	16	2.0	4.0
2	许波	中国电子科技集团公司第二十六研究所	8	13	2.0	3.0
3	王晋荣	中国电子科技集团公司第二十六研究所	3	9	2.0	3.0