浅谈DC/DC功率器件在ATE测试过程中的故障分析

• 作者: 仇钱进 张磊 魏军
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: DC/DC电源芯片 ATE测试 产品失效 故障分析
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 26-31
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 3471字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2019.11.006

摘要

由于数据业务的飞速发展和分布式供电系统的不断推广,DC-DC模块电源的增幅已经超出了一次电源,而且其功率密度也越来越大,对封测得要求也越来越高.大功率DC/DC集成电路或者功率电源控制芯片在研发测试(特别是ATE测试)过程中经常会出现各种各样的产品失效,有些是产品故障,有些却是误判.因此,我们必须学会对失效产品进行故障分析,以甄别失效的真假.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊	中国电子科技集团公司第五十八研究所	46	76	4.0	7.0
2	魏军	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	9	1.0	2.0
3	仇钱进	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	0	0.0	0.0