基于LVDS电路的预加重测试

• 作者: 何立 冉翠翠 张磊 马锡春
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 预加重 LVDS电路 ATE测试
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 通用测试
• 页码范围: 14-20
• 页数: 7页
• 分类号: TN492
• 字数: 1383字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2019.11.004

摘要

在高速LVDS集成电路的测试中,由于长距离、高速率下会带来能量损失,这种传输损耗会使信号的高频分量比低频分量损耗更大,而导致驱动能力不足等问题,故在集成电路设计中增加预加重,来补偿传输损耗.该文结合具有预加重功能的MAX3845电路,对可置位预加重管脚设置三种不同状态,通过ATE动态编程,结合预加重计算公式,计算预加重dB指数,验证电路预加重模块设计质量,进一步总结测试方法和结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊		46	76	4.0	7.0
2	冉翠翠		1	0	0.0	0.0
3	马锡春		1	0	0.0	0.0
4	何立		1	0	0.0	0.0