温度对SiO2气凝胶表面疏水官能团数量及疏水性的影响

• 作者: 刘城昊 刘晓燕 刘立君 王忠华 赵海谦 韩瑞 高继慧
• 来源期刊: 化工新型材料
• 关键词: SiO2气凝胶 绝热 疏水性 甲基官能团 温度
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 科学研究
• 页码范围: 207-210
• 页数: 4页
• 语种: 中文

摘要

SiO2气凝胶颗粒多采用表面修饰甲基官能团的方法进行疏水改性.该方法存在受热后疏水官能团断裂,疏水性下降的问题.目前官能团数量及疏水性随温度及加热时间的变化规律以及官能团数量与接触角之间的关系尚不明确.采用三甲基氯硅烷对SiO2进行疏水改性.利用傅里叶红外光谱和接触角测试方法分析了疏水SiO2气凝胶表面甲基官能团数量及疏水性随温度、加热时间的变化规律,在此基础上明确了接触角与官能团数量之间的关系.结果 表明:提高受热温度及加热时间均会使疏水SiO2气凝胶颗粒表面甲基官能团数量变小,进而降低静态接触角.当温度达到600℃时,甲基官能团完全消失,材料失去疏水能力.材料接触角与表面甲基官能团损失量近似呈正比关系.