基于马氏距离的二元退化可靠性分析

• 作者: 唐金国 孙媛 滕克难 王浩伟 盖炳良
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 二元退化 马氏距离 Wiener过程 随机影响 模型选择
• 年，卷（期）: 2019,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 686-692
• 页数: 7页
• 分类号: TB114.3
• 字数: 5807字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.03.31

摘要

为解决二元退化产品可靠性建模困难,提出了基于马氏距离(Mahalanobis distance,MD)的二元退化产品可靠性分析方法.首先引入MD,将二元退化数据降维至一元MD,并采用蒙特卡罗方法确定MD失效阈值;然后分别采用了Wiener过程的基本模型和3个具有随机参数的Wiener过程模型进行退化建模,运用贝叶斯方法进行参数估计,并通过模型验证、分位数图(quantile-quantile plot,QQ图)和改进的留一法交叉验证等模型选择方法综合判断确定最优模型.最后采用裂纹增长数据实例验证了所提方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	滕克难		132	558	11.0	16.0
2	唐金国		55	200	6.0	11.0
3	孙媛		54	154	6.0	8.0
4	盖炳良		9	25	3.0	4.0
5	王浩伟		26	225	10.0	14.0