钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
null期刊
\
电子产品可靠性与环境试验期刊
\
片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究
片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究
作者:
于迪
徐洁芬
李欣荣
杨云
王浩
芈小龙
雷庭
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
片上系统
可靠性
虚拟化验证
摘要:
结合国内外片上系统可靠性的虚拟化验证现状,总结出了国内在该领域存在的主要问题和差距,并提出了相关的改进建议;分析梳理出了国外常见的虚拟化验证架构及思路,可为开展片上系统可靠性虚拟化验证工作的相关科研人员提供技术参考.
免费获取
收藏
引用
分享
推荐文章
先进集成电路制造的圆片级可靠性系统
集成电路
圆片级可靠性
封装可靠性
计算机网络可靠性验证系统设计
计算机网络
可靠性验证
双验证模块
网络拓扑结构
交换设备
时延
大型复杂通指系统装备可靠性指标的验证
通信与指挥装备
可靠性指标
确定
验证
基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨
紧缩系统
可靠性
鉴定
内容分析
文献信息
版权信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
片上系统
可靠性
虚拟化验证
年,卷(期)
2019,(5)
所属期刊栏目
综述与展望
研究方向
页码范围
96-100
页数
5页
分类号
TB114.33
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2019.05.018
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
于迪
16
12
2.0
3.0
2
王浩
4
7
2.0
2.0
3
杨云
6
2
1.0
1.0
4
李欣荣
9
0
0.0
0.0
5
徐洁芬
3
0
0.0
0.0
6
雷庭
7
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
全文.pdf
引文网络
引文网络
二级参考文献
(21)
共引文献
(23)
参考文献
(12)
节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1992(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1993(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1994(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1995(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2001(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2003(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2004(2)
参考文献(0)
二级参考文献(2)
2005(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2006(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2007(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2008(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2009(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2010(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
2011(5)
参考文献(2)
二级参考文献(3)
2012(3)
参考文献(2)
二级参考文献(1)
2013(5)
参考文献(3)
二级参考文献(2)
2015(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2016(2)
参考文献(1)
二级参考文献(1)
2017(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2019(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
片上系统
可靠性
虚拟化验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
期刊文献
相关文献
1.
先进集成电路制造的圆片级可靠性系统
2.
计算机网络可靠性验证系统设计
3.
大型复杂通指系统装备可靠性指标的验证
4.
基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨
5.
容错计算机系统的可靠性验证系统设计与实现
6.
离散型软件可靠性验证测试方案研究
7.
国产数控系统可靠性现状及对策研究
8.
舰船装备软件可靠性验证与评价技术研究
9.
某大型电子系统可靠性指标验证方法
10.
军用通信网的系统可靠性参数选择与试验验证
11.
释放机构可靠性数学模型及其验证
12.
车载电控模块的硬件可靠性验证方法
13.
VLSI圆片级可靠性技术
14.
基于虚拟样本的火工品可靠性评估
15.
复杂系统可靠性分配研究
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
电子产品可靠性与环境试验2022
电子产品可靠性与环境试验2001
电子产品可靠性与环境试验2002
电子产品可靠性与环境试验2003
电子产品可靠性与环境试验2004
电子产品可靠性与环境试验2005
电子产品可靠性与环境试验2006
电子产品可靠性与环境试验2007
电子产品可靠性与环境试验2008
电子产品可靠性与环境试验2009
电子产品可靠性与环境试验2010
电子产品可靠性与环境试验2011
电子产品可靠性与环境试验2012
电子产品可靠性与环境试验2013
电子产品可靠性与环境试验2014
电子产品可靠性与环境试验2015
电子产品可靠性与环境试验2016
电子产品可靠性与环境试验2017
电子产品可靠性与环境试验2018
电子产品可靠性与环境试验2019
电子产品可靠性与环境试验2019年第1期
电子产品可靠性与环境试验2019年第2期
电子产品可靠性与环境试验2019年第6期
电子产品可靠性与环境试验2019年第5期
电子产品可靠性与环境试验2019年第3期
电子产品可靠性与环境试验2019年第4期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号