高世代线TFT-LCD面板对盒精度的提升

• 作者: 刘正 吴洪江 汪栋 袁剑峰 陈维涛 齐鹏煜
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD面板 对盒精度 阵列 彩膜 成盒 真空对盒 关键位置精度非线性补证 封框胶
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 136-145
• 页数: 10页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 4233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20193402.0136

摘要

对盒精度提升是高世代TFT-LCD面板生产线产品小型化、薄型化、高PPI(300+)与高开口率升级的必备核心技术.通过阵列(Array)与彩膜(CF)关键位置/尺寸匹配性优化与离散性优化,首次尝试阵列关键位置精度(TP)非线性补正功能,并钻研成盒(Cell)过程中基板翻转稳定化、封框胶设计与涂布工艺优化,实现电视机、显示器、笔记本、平板电脑等产品对盒精度由7.5μm降低至5.5μm;在解决显示器产品按压Mura与平板电脑产品像素漏光的同时,对产品开口率的贡献也随着产品PPI的升高而增加,PPI 300+产品的开口率余量提高14.8％,有效提升了高世代TFT-LCD面板生产线小尺寸/高PPI产品核心竞争力、收益性和产品群组合.另外,本文建立高世代TFT-LCD面板生产线对盒精度分析方法、对策检讨及改善的标准流程,形成新产品阵列TP非线性补正和对盒辅助封框胶的设计基准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴洪江		3	32	2.0	3.0
2	袁剑峰		12	32	4.0	4.0
3	汪栋		3	5	2.0	2.0
4	陈维涛		9	15	2.0	3.0
5	刘正		2	4	2.0	2.0
6	齐鹏煜		1	2	1.0	1.0