TFT-LCD发绿的研究及改善

• 作者: 张加勤 朱建华 李伟 李祖亮 杨宗顺 杨德波 樊明雷 钟野
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 切割 静电 银胶 发绿 BM Dummy胶
• 年，卷（期）: 2019,（4）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 354-360
• 页数: 7页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 1963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20193404.0354

摘要

TFT-LCD(Thin film transistor-liquid crystal display)行业中,在对屏进行切割 、搬运过程中,容易造成屏边缘破损.当破损位置刚好位于屏点银胶位置时,银胶会通过破损进入,与黑矩阵(Black matrix,BM)接触,使黑矩阵带电形成干扰电场,从而使液晶偏转异常而产生发绿不良.切割工艺中,增加辅胶涂覆可以使切割后的空白条更稳定,从而减少搬运过程中摩擦 、碰撞导致的屏边缘破损,从而降低不良发生率,导入后不良发生率由5.6％ 下降到1.5％.屏单侧点银胶是一种具有可行性的不良改善临时措施,但不具有量产导入性.通过对比相似产品银胶点位设计及产线工艺条件调查,得出当银胶点距离屏边缘 ≥4 mm时,可有效防止发绿不良的发生.在点银胶侧BM区域进行挖槽,使银胶与BM隔离开,可彻底避免静电由银胶导入黑矩阵.黑矩阵挖槽设计导入后,发绿不良降低为0％,不良彻底解决.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨德波		5	3	1.0	1.0
2	李伟		5	4	1.0	2.0
3	钟野		6	6	2.0	2.0
4	杨宗顺		4	1	1.0	1.0
5	朱建华		1	0	0.0	0.0
6	张加勤		1	0	0.0	0.0
7	李祖亮		1	0	0.0	0.0
8	樊明雷		3	0	0.0	0.0