模拟低空环境下FPGA的SEU测试系统结果分析

• 作者: 任楷飞 孟令军 顾泽凌
• 来源期刊: 电光与控制
• 学科: 航空航天
• 关键词: 低空环境 SRAM型FPGA 单粒子翻转 测试系统 结果分析
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 所属期刊栏目: 工程应用
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: V11
• 字数: 2836字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-637X.2019.01.016

摘要

为了探究在低空环境下SRAM型FPGA产生单粒子翻转事件与大气中高能粒子剂量的关系,设计了一种便携式测试系统.使用该系统在某地6个不同海拔的测试点对SRAM型FPGA进行单粒子翻转测试.某地平均海拔在3000～5000 m,可以很好地模拟低空飞行环境.通过测试试验,该系统获得了大量现场数据,使用Matlab对测试数据进行了分析.结合在某地的测试结果,从SRAM型FPGA的存储结构、单粒子翻转产生机理、测试系统的工作原理等方面入手,对该测试系统的科学性与实用性进行了验证分析.分析结果表明,该便携式测试系统科学有效,可为航空航天领域中SRAM型FPGA的选型与使用提供一种参考方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟令军	中北大学电子测试技术国防科技重点实验室	74	438	11.0	17.0
2	任楷飞	中北大学电子测试技术国防科技重点实验室	7	21	3.0	4.0
3	顾泽凌	中北大学电子测试技术国防科技重点实验室	6	15	2.0	3.0