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国外军用电子元器件可靠性技术研究进展
军用电子元器件
可靠性试验
塑封微电路
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失效分析
基于真空电子学方法的太赫兹源
太赫兹源
真空电子学
微加工技术
慢波结构
军用电子元器件测试系统研究
电子元器件
测试系统
软件结构
电子产品
内容分析
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文献信息
篇名 突破核心器件技术打造优秀科研团队 ——中国工程物理研究院应用电子学研究所 电真空器件技术研究团队
来源期刊 科技成果管理与研究 学科
关键词
年,卷(期) 2019,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 后插1,封3
页数 2页 分类号
字数 1099字 语种 中文
DOI 10.3772/j.issn.1673-6516.2019.12.033
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期刊影响力
科技成果管理与研究
月刊
1673-6516
11-5433/N
北京复兴路15号251室
chi
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6300
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8
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