破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高

• 作者: 刘发 徐爱斌
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 破坏性物理分析 电子元器件质量 缺陷模式控制或消除
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 58-60
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28|TN61/65
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.05.015

摘要

简要介绍了破坏性物理分析(DPA)技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所DPA实验室应用DPA技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐爱斌		9	40	4.0	6.0
2	刘发		1	10	1.0	1.0