元器件破坏性物理分析方法的定制开发

• 作者: 张磊 王旭
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微组装元器件 破坏性物理分析 定制开发
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性预计与分配
• 页码范围: 17-20
• 分类号: TN6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2011.04.004

摘要

随着航天器研制技术的不断进步,大量不同于传统半导体器件的新型元器件以及微组装结构的组件级元器件越来越多地被选用,在对这些类别的元器件进行破坏性物理分析(DPA)时没有可适用的标准规范,采用定制开发的技术方法是解决途径之一.通过对某型视频处理组件的DPA工程实践案例的介绍,探讨了DPA方法的定制开发过程以及需要重点关注的事项.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王旭	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	9	4	1.0	1.0
2	张磊	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	13	18	2.0	3.0