考虑不完美排错和检测率下降变化的软件可靠性模型

• 作者: 徐立
• 来源期刊: 重庆理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 软件可靠性模型 不完美排错 非齐次泊松过程 检测率下降
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 信息·计算机
• 页码范围: 132-137
• 页数: 6页
• 分类号: TP399
• 字数: 3601字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-8425(z).2019.08.021

摘要

为评估软件的可靠性,提出一种软件可靠性模型(IDDD模型).模型考虑了bug检测率随测试时间呈下降变化及修复bug时会引入新的bug等实际情况,在拟合和预测性能方面有较好的表现.在经典bug数据集上使用公认拟合和预测性能评价指标(SSE、Rsquare和AIC)与5个性能优秀的可靠性模型(G-O模型、P-Z模型以及3个考虑不完美排错的模型)进行对比,实验结果表明:所提出模型在拟合和预测性能上表现优于其他模型,能更有效地在实际软件测试中预测软件中剩余bug的数量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐立	中国科学技术大学苏州研究院	15	13	2.0	3.0