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摘要:
针对软件缺陷预测时普遍存在的样本缺陷数据不平衡、特征冗余等问题,引进稀疏自编码(SAE)神经网络并加以改进,提出了一种新的分类模型.模型结合了SAE神经网络和少数样本合成过采样技术(SMOTE)的优点,可弥补传统分类方法在软件缺陷预测时忽视少数类分类效果、不能很好地保留数据内部特征等不足.基于NASA软件缺陷公共数据库中多个数据集的实验结果表明:提出的模型在软件缺陷预测方面的分类效果明显优于其他算法,尤其提高了不平衡数据集中少数类的分类精度.
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文献信息
篇名 基于改进稀疏自编码神经网络的软件缺陷预测
来源期刊 传感器与微系统 学科 工学
关键词 过采样 稀疏自编码 神经网络 软件缺陷预测 不平衡
年,卷(期) 2019,(2) 所属期刊栏目 研究与探讨
研究方向 页码范围 49-51,62
页数 4页 分类号 TP183
字数 3233字 语种 中文
DOI 10.13873/J.1000-9787(2019)02-0049-03
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐海涛 杭州电子科技大学计算机学院 15 57 4.0 7.0
2 高莹 杭州电子科技大学计算机学院 1 1 1.0 1.0
3 苏娜 杭州电子科技大学计算机学院 2 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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2020(2)
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研究主题发展历程
节点文献
过采样
稀疏自编码
神经网络
软件缺陷预测
不平衡
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感器与微系统
月刊
1000-9787
23-1537/TN
大16开
哈尔滨市南岗区一曼街29号
14-203
1982
chi
出版文献量(篇)
9750
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43
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