基于统计回归和非线性Wiener过程的 交流接触器剩余寿命预测

• 作者: 李奎 李正广 武一 郑淑梅 高志成
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 交流接触器 触头质量损耗 Wiener 过程 统计回归 寿命预测
• 年，卷（期）: 2019,（19）
• 所属期刊栏目: 电机与电器
• 页码范围: 4058-4070
• 页数: 13页
• 分类号: TM572.2
• 字数: 8923字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.180764

摘要

电弧侵蚀引起交流接触器触头质量损耗,使其电接触性能不断退化,根据其性能退化过程可以对交流接触器剩余寿命进行预测.该文分析可线性化的非线性Wiener过程,采用统计回归的建模方法,利用触头质量损耗历史数据建立三阶函数退化轨迹模型,进而建立时间尺度变换模型,对分段累积操作次数进行时间尺度变换;以累积触头质量损耗首次达到失效阈值作为失效判据,提出基于非线性Wiener过程的可靠性评估方法和剩余寿命预测模型;在交流接触器电寿命试验基础上,进行试验数据变化规律分析,证明可以采用本文建立的退化模型和预测方法进行交流接触器剩余寿命预测;最后,通过试验数据进行交流接触器剩余寿命的极大似然估计,并比较分析不同数据处理方法的预测精度,验证了本文剩余寿命预测方法的准确性.