基于步进应力加速试验的 某电子部件寿命评估

• 作者: 陈愿
• 来源期刊: 电子元器件与信息技术
• 关键词: 电子部件 步进应力 加速寿命试验 威布尔分布
• 年，卷（期）: 2019,（2）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 字数: 3116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.2.001

摘要

针对电子高可靠性、长寿命的特点,提出了使用步进应力加速寿命试验方法来评估电子部件件的贮存寿命和可靠性指标.基于威布尔寿命分布和Arrhenius加速寿命模型,采用极大似然法进行参数估计,对电子部件在常温下(25℃)的贮存寿命进行评估.结果表明,在25℃下且可靠度为0.995时,使用步进应力加速寿命试验方法评估电子部件的寿命约为16.22年,与恒定应力下的加速寿命试验得出的结果相近,充分说明了采用步进应力加速寿命方法评估电子部件的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈愿	中国电子科技集团公司第三十八研究所	2	3	1.0	1.0