有限元模拟技术在电子部件可靠性分析中的应用

• 作者: 何小琦 宋芳芳 杨序贵 邱宝军
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 有限元 电子枪 固有频率 模块 结温
• 年，卷（期）: 2005,（z1）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TN124+.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.016

摘要

分析了有限元计算模拟技术在分析电子部件可靠性的优势所在,以及应用的基本方法,给出了行波管电子枪抗振性能和功率DC/DC电源热性能计算模拟的两个应用案例.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何小琦	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	26	170	9.0	11.0
2	宋芳芳	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	11	101	7.0	10.0
3	邱宝军	信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心	2	19	2.0	2.0
4	杨序贵		4	62	4.0	4.0