互耦效应对阵列天线的影响分析

• 作者: 车升余
• 来源期刊: 中国战略新兴产业(理论版)
• 学科: 经济
• 关键词: 天线互耦 阵列天线 隔离度 去耦方法
• 年，卷（期）: zgzlxxcyllb_2019,（3）
• 页码范围: 0124-0124
• 页数: 1页
• 分类号: F

摘要

针对微带贴片天线,通过散射矩阵法对阵列天线单元间的互耦进行理论分析。以直线阵列为例,通过 HFSS 仿真, 对比了阵列单元与孤立单元性能的区别,分析了互耦效应对天线方向图及传输曲线的影响趋势,并由此给出了降低互耦效应 的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	车升余	中国电子科技集团公司第五十四研究所	3	1	1.0	1.0