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宽长比对CMOS反相器延迟时间影响的分析
宽长比对CMOS反相器延迟时间影响的分析
作者:
张照锋
董海青
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
宽长比
反相器
延迟时间
摘要:
延迟时间是集成电路中的重要参数,特别是在高速高频集成电路中,本文主要研究CMOS器件宽长比对基本单元反相器传输延迟时间的影响,通过改变MOS晶体管的宽长比,来分析MOS晶体管沟道宽度对延迟时间的具体影响,从而为后续高速集成电路基本单元的设计打下基础.
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文献信息
篇名
宽长比对CMOS反相器延迟时间影响的分析
来源期刊
电子测试
学科
关键词
宽长比
反相器
延迟时间
年,卷(期)
2019,(17)
所属期刊栏目
理论与算法
研究方向
页码范围
46-47
页数
2页
分类号
字数
1324字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-8519.2019.17.016
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张照锋
40
50
4.0
5.0
2
董海青
17
41
3.0
6.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
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2019(1)
参考文献(1)
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2019(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
宽长比
反相器
延迟时间
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
主办单位:
北京自动测试技术研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-8519
CN:
11-3927/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市100098-002信箱
邮发代号:
82-870
创刊时间:
1994
语种:
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
总被引数(次)
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