光电耦合器酸腐蚀问题分析及对策

• 作者: 于海泳 施庆西 王耐东 王陆宾
• 来源期刊: 通信电源技术
• 关键词: 光电耦合器 铝电极 腐蚀 开路
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 运营探讨
• 页码范围: 219-220
• 页数: 2页
• 字数: 1266字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19399/j.cnki.tpt.2019.10.096

摘要

通过光耦使用过程的数据统计,内部结构分析,失效机理研究,结合光耦应用环境,对影响其质量可靠性的因素进行全面分析,最终找到光电耦合器铝电极开路的产生原因是酸腐蚀,并给出了初步的整改对策.通过此项问题的研究,对全面、系统化提升器件本身质量可靠性起到了重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施庆西		3	1	1.0	1.0
2	王陆宾		2	1	1.0	1.0
3	王耐东		1	1	1.0	1.0
4	于海泳		1	1	1.0	1.0