一种基于JTAG协议的SiP测试方法

• 作者: 张凯红 王圣辉 苏洋 陆锋
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG 边界扫描 互连测试 SiP测试
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 252-256
• 页数: 5页
• 分类号: TN791
• 字数: 2851字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2020.03.012

摘要

介绍了一种基于JTAG测试技术的系统化SiP测试方法.针对SiP的设计要求、测试需求、测试流程和测试评价指标4个方面,提供一套完整的SiP测试解决方案.实验表明,运用JTAG测试技术对信号处理SiP电路进行互连测试,可以精准地测试和定位出电路内部的异常和故障,有效提升了SiP系统内封装模块对外测试的透明度,降低了测试的黑盒效应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆锋	江南大学物联网工程学院	19	27	3.0	4.0
3	苏洋	中国电子科技集团公司第五十八研究所	6	1	1.0	1.0
6	王圣辉	江南大学物联网工程学院	2	0	0.0	0.0
7	张凯红	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	0	0.0	0.0