Tikhonov正则化法反解计算γ多层屏蔽厚度

• 作者: 何伟波 张连平 杨苏 王志慧 肖洒 陈颖
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: γ能谱 多层屏蔽 Tikhonov正则化 反解计算
• 年，卷（期）: 2020,（1）
• 页码范围: 151-155
• 页数: 5页
• 分类号: O571.33
• 字数: 3048字
• 语种: 中文

摘要

基于Tikhonov正则化法,以单层、双层以及三层屏蔽的152Eu点源为例,对γ多层屏蔽材料厚度进行了反解研究.结果 表明:Tikhonov正则化法能够给出比最小二乘法更稳定且可靠的计算结果.相对于线性吸收系数的计算与测量值的偏差,γ特征谱线的选取是影响反解结果的主要因素.