基于光栅尺的位移测量系统设计

• 作者: 罗瑜
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅尺 正交解码 位移测量 LabVIEW
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 18-22
• 页数: 5页
• 分类号: TP216
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.1903729

摘要

基于光栅尺的位移测量系统以其对使用环境要求低,测量分辨率高等优点,在机械制造领域应用广泛.介绍了一种基于光栅尺的全自动位移测量系统实现.测量系统通过HCTL2020对光栅尺输出的信号进行细分辨向从而提高测量精度,使用MSP430对细分后的信号进行处理,实现了对X-Y工作台上X方向的位移测量,并将测量结果发送至上位机.上位机通过串口通信发送控制命令,接收测量系统发送的测量结果,并对待测工件的尺寸加工精度进行了分析.实验证明该系统测量精度高,且工作稳定可靠、实用性好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗瑜		2	0	0.0	0.0