典型光流算法在条纹位移测量中的分辨力和测量范围

• 作者: 代晴 孙平 类智方
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光计算 位移测量 位移分辨力 位移测量范围 光流 条纹光流
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 光计算
• 页码范围: 143-151
• 页数: 9页
• 分类号: O439
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS202040.0320001

摘要

分析了Horn-Schunck全局光流算法和Lucas-Kanade局域光流算法在条纹位移测量中的分辨力和测量范围,结果表明:当Horn-Schunck算法的相对误差和Lucas-Kanade算法的相对误差小于2％时,两种算法的相位分辨力都能够达到10-13π,对应像面上的位移分辨力为1.6×10-12 pixel,两种算法在理论上与四步相移法的分辨力相当;在有噪声的情况下,两种算法的分辨力都达到了0.01π,对应像面上的位移分辨力为0.16 pixel;在相对误差小于2％、方均根误差小于3％时,Horn-Schunck算法和Lucas-Kanade算法的测量范围分别为0～17π/100和0～52π/100,分别约为0～π/6和0～π/2,并且测量范围受噪声的影响很小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙平		55	367	14.0	17.0
2	代晴		4	0	0.0	0.0
3	类智方		4	0	0.0	0.0