SixGey(n=x+y,n=2 ～5)团簇成键条件与解离行为的密度泛函紧束缚方法研究

• 作者: 吴丽君 张林 李美玲 沈龙海 迟宝倩
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 团簇 电子性质 密度泛函紧束缚 Mülliken交叠电子布居数
• 年，卷（期）: 2020,（5）
• 所属期刊栏目: 团簇与纳米结构
• 页码范围: 677-689
• 页数: 13页
• 分类号: O649
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2020.05.007

摘要

采用基于密度泛函理论的紧束缚方法和遗传算法相结合的方法对SixGey(x+y=n,n=2～5)二元团簇的低能稳定结构进行了全局搜索,分析了包含不同原子数目、不同组分团簇的几何构型、原子间交叠电子布居数及可能发生的解离行为.研究表明,包含2～5原子团簇的Si-Si、Ge-Ge和Si-Ge键的成键距离分别为2.18(A) ～ 3.10(A)、2.32(A) ～ 3.64(A)和2.32(A) ～ 3.38 (A);二元团簇的原子数目、组分对原子间键长、键角及Si/Ge原子在团簇中的占位、原子间相互作用有明显影响.通过团簇中各原子的Mülliken总交叠电子布居数分析,发现多数团簇中单独的Ge原子最容易被解离出来,随着团簇包含原子数目增多,出现了多种存在竞争机制的解离方式,可能同时存在解离出Si1 Ge1、Si2 Ge1和Ge原子的情况.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈龙海		23	41	4.0	5.0
2	吴丽君		16	42	3.0	6.0
3	迟宝倩		8	7	1.0	2.0
4	张林		2	40	1.0	2.0
5	李美玲		3	0	0.0	0.0