基于0.1Hz超低频介损检测的配电电缆分析与评价

• 作者: 孙斌煌 庄美圆 徐志鹏 杨赞峰 苏宁
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 超低频 介损 电缆检测
• 年，卷（期）: 2020,（4）
• 所属期刊栏目: 经验与交流
• 页码范围: 97-99
• 页数: 3页
• 分类号: TM24
• 语种: 中文

摘要

超低频介质损耗检测是一种判断电缆绝缘老化程度的有效手段,开展城区配电电缆检测是配电运维检修的一项重要工作.本文阐述了超低频介损的原理及评判标准,分析了一条典型的电缆检测案例,并统计了2019年度城区电缆介损检测情况.结果 表明电缆运行年限的增加会导致介损合格率降低,同时对今后待测电缆的选定和老化电缆排查提供了一定的指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨赞峰		4	0	0.0	0.0
2	孙斌煌		1	0	0.0	0.0
3	苏宁		1	0	0.0	0.0
4	庄美圆		1	0	0.0	0.0
5	徐志鹏		1	0	0.0	0.0