X射线掠入射显微成像诊断技术研究进展

• 作者: 丁永坤 张兴 徐捷 徐欣业 李文杰 王占山 王新 穆宝忠 陈亮
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 惯性约束聚变 等离子体诊断 X射线光学 KB显微镜 Wolter显微镜
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 页码范围: 1-15
• 页数: 15页
• 分类号: O434.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB202032.200133

摘要

高精密的X射线成像诊断是深入理解内爆过程,揭示点火尺度下未知物理问题的关键.基于掠入射反射的X射线显微镜,结合亚纳米级的超光滑球面或非球面反射镜,能够实现空间分辨优于5μm的高分辨成像.介绍了国际惯性约束聚变领域的X射线显微成像技术发展及应用,重点展示了我国在高分辨X射线(KB)显微镜、多通道X射线KB显微镜以及大视场X射线KBA显微镜方向的进展,分析了下一阶段超高分辨X射线显微成像的研究计划.通过不断的技术创新,我国的X射线显微成像诊断能力已经达到国际先进水平.