基于查表法的CRC算法实现与优化

• 作者: 王宁平 冯全源
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: 集成电路设计 循环冗余校验CRC运算 线性反馈移位寄存器 可配置 verilog 查表法 寄存器验证
• 年，卷（期）: 2020,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与设计|Research and Design
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TN402|TN791|TN911.22
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2020.03.006

摘要

基于数据传输系统带宽越来越大,数据传输过程中发生错误的概率也越来越高,设计用于检错和纠错的校验码产生模块是非常必要的.完成一种可配置的并行CRC运算模块的设计,数据长度和CRC运算版本皆可进行配置,在一个时钟周期内即可并行计算得到CRC校验结果.首先通过线性反馈移位寄存器实现了串行CRC计算模块,然后结合查表法多次例化串行CRC计算模块、并将上次运算结果作为本次运算的初值实现了可并行运算的CRC校验码计算模块.