基于递推法的CRC-32校验码并行改进算法

• 作者: 刘剑霏 左飞飞 杜英森
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 循环冗余校验 CRC-32校验码 递推法 并行逻辑关系
• 年，卷（期）: 2019,（1）
• 页码范围: 97-101
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.21
• 语种: 中文

摘要

针对在CRC-32校验码生成方法中,固定电路成本高且缺乏灵活性,传统按位串行算法计算速度慢、查表法需要额外占用空间问题,提出了基于递推法的CRC-32校验码并行改进算法.该算法以递推法为基础,根据实际情况中不同的计算速度和占用空间的需求,计算出并行输入任意n位数据时CRC寄存器中新老数据之间的并行逻辑关系,并根据这一逻辑关系修改程序,从而达到在一定占用空间的限制下,最大程度提升运算速度的目的.仿真结果表明,改进算法存储空间小于查表法,有利于小型化、快速化的硬件实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜英森		2	3	1.0	1.0
2	刘剑霏		3	4	1.0	2.0
3	左飞飞		1	3	1.0	1.0