基于GPR的变工况下闭环SEPIC的故障预测

• 作者: 帕孜来·马合木提 葛震君
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 变换器 故障预测 高斯过程回归 故障特征参数
• 年，卷（期）: 2020,（19）
• 所属期刊栏目: 理论与实验研究
• 页码范围: 8-13
• 页数: 6页
• 分类号: TM46
• 语种: 中文
• DOI: 10.19753/j.issn1001-1390.2020.19.002

摘要

变工况下闭环单端初级电感变换器(SEPIC)系统级的故障预测,不仅受故障模式的影响,还受工况变化的影响.针对此问题,采用了一种新颖的变工况下闭环SEPIC变换器系统级故障特征参数(S-FCP)的提取方法,并提出了一种基于高斯过程回归(GPR)对S-FCP退化状态预测的方法.研究了在不同工况下闭环SEPIC变换器关键元件的退化对系统级参数的影响.选取对关键元件退化敏感且退化趋势有规律的系统级参数作为闭环SEPIC变换器的S-FCP,并利用多元最小二乘回归得到额定工况下的S-FCP.基于GPR对S-FCP进行故障预测,实现变工况下闭环SEPIC变换器的故障预测.实验结果证明了该S-FCP提取方法和预测框架的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	帕孜来·马合木提		59	151	7.0	8.0
2	葛震君		4	0	0.0	0.0