基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统设计

• 作者: 石英 陈心浩 何湘竹
• 来源期刊: 实验技术与管理
• 关键词: 数字芯片自动测试 多功能 多引脚 单片机 FPGA
• 年，卷（期）: 2020,（12）
• 所属期刊栏目: 仪器设备研制|Development of instruments and equipment
• 页码范围: 130-135
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.16791/j.cnki.sjg.2020.12.030

摘要

为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统.采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心,给待测芯片施加激励信号,并将响应信号与预期响应信号进行比较,获得测试结果;设计自定义接口完成单片机与FPGA之间的通信.该系统实现了 14、16和20引脚的74系列数字芯片功能和型号测试,具有集成化、多样化、便捷化的特点,极大地提高了实验室和实验教学中芯片的测试效率.