基于STM32的纸张破漏检测系统研究

• 作者: 刘浩捷 杨海马 李筠 谌佳宁 何江 丁毅凡 张大伟
• 来源期刊: 电子测量技术
• 关键词: 纸张漏洞 STM32 光敏电阻 LM393
• 年，卷（期）: 2020,（18）
• 所属期刊栏目: 传感器及非电量检测技术|Sensor and Non-electricity Measurement
• 页码范围: 141-145
• 页数: 5页
• 分类号: TN253
• 语种: 中文
• DOI: 10.19651/j.cnki.emt.2004659

摘要

提高造纸行业的生产质量和生产效率,实时准确地检测原料纸的漏洞和破损,对于纸张生产企业十分重要.纸张破漏检测系统以STM32作为主控制器,采集纸张生产中的参数信息,由光敏电阻和LM393组成线阵传感器,检测纸张生产过程中出现的破漏缺陷.系统通过光敏传感器的返回值实时刷新内部参数,反应纸张的透光情况和动态变化,实现对纸张破漏的检测和报警.设计系统经实际测试表明,检测过程具有快速、稳定的性能,可以实现纸张破漏的实时检测,对提高生产自动化有较大帮助.