浅析3D NAND Flash测试平台设计与实现

• 作者: 陈畅
• 来源期刊: 中国宽带
• 关键词: 3D NAND Flash 通信协议 读/写数据 ECC纠错算法
• 年，卷（期）: 2020,（6）
• 所属期刊栏目: 互联网+应用
• 页码范围: 91
• 页数: 1页
• 语种: 中文

摘要

NAND Flash存储器因为内存容量大、改写速度快、运行稳定性好等一系列特点得到了广泛运用.在2D NAND Flash基础上经过技术改良发展而来的3D NAND Flash,创新性的采用了垂直的虚拟三维细胞结构,同时选择立体硅层的生产工艺,在极小的体积下提供了更大的容量,并且保证了存储环境的稳定性.本文通过设计3D NAND Flash测试平台,对不同型号的Flash特性展开了分析.