双线阵CCD光学拼接与误差分析研究

• 作者: 何娜娜 艾雪雯
• 来源期刊: 光学技术
• 关键词: 图像测量 动态范围 光学拼接 标定 像素重叠
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 光学器件及系统设计|Optical Instrument and Optical Design
• 页码范围: 159-162
• 页数: 4页
• 分类号: TG156
• 语种: 中文

摘要

基于线阵CCD的图像测量技术是当前工程应用中的一个重要领域,针对当前高精度大动态范围测量和标准线阵CCD测量范围及线阵CCD几何结构之间的矛盾,提出了一种高精度大范围的线阵CCD测量拼接方案.利用半反半透镜平面反射原理设计了双线阵CCD高精度拼接的光学拼接系统的光机结构原理,给出了重叠像元的标定原理,对其标定和拼接误差进行了分析.通过拼接系统的实验室长期实验结果表明:方案拼接简单,实用可靠,系统的整体拼接误差约为0.019mm,且拼接不存在漏缝现象,拼接精度满足高精度测量的要求.拼接方案对高精度、大动态范围CCD测量实际应用有一定的参考意义.