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面向窄节距倒装互连的预成型底部填充技术
面向窄节距倒装互连的预成型底部填充技术
作者:
王瑾
石修瑀
王谦
蔡坚
贾松良
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
预成型底部填充
窄节距
倒装芯片
摘要:
近年来随着电子产品的小型化发展,窄节距倒装芯片互连已经成为研究热点.传统的倒装芯片组装后底部填充技术(例如底部毛细填充)在用于窄节距互连时易产生孔洞,导致可靠性降低,因此产业界开发了面向窄节距倒装芯片互连的预成型底部填充技术,主要包括非流动底部填充和圆片级底部填充.介绍了这类新型底部填充技术的具体工艺及材料需求,并提出了目前其在大规模量产以及未来更窄节距应用中存在的问题及挑战,总结了目前产业界在提高量产生产效率、提升电互连的可靠性以及开发纳米级高热导率填料等方面提出的解决方案,分析了该技术未来的发展方向.
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文献信息
篇名
面向窄节距倒装互连的预成型底部填充技术
来源期刊
电子与封装
学科
工学
关键词
预成型底部填充
窄节距
倒装芯片
年,卷(期)
2021,(1)
所属期刊栏目
封面文章
研究方向
页码范围
1-10
页数
10页
分类号
TN305.94
字数
语种
中文
DOI
10.16257/j.cnki.1681-1070.2021.0105
五维指标
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被引次数趋势
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研究主题发展历程
节点文献
预成型底部填充
窄节距
倒装芯片
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
主办单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-1070
CN:
32-1709/TN
开本:
大16开
出版地:
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
邮发代号:
创刊时间:
2002
语种:
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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