电子元器件抗硫化研究

• 作者: 彭伟 杨博 曾阳
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 关键词: 电子元器件 硫化 评价体系
• 年，卷（期）: 2021,（1）
• 所属期刊栏目: 行业应用
• 页码范围: 74-77
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2021.01.019

摘要

为了解决电子元器件在使用过程中因硫化而失效的问题,通过对片式电阻器、轻触开关、继电器、LED光电器件的硫化失效原因以及硫化失效机理的研究与分析,提出应尽快建立电子元器件抗硫化评价体系,为装备提供高质量和高可靠的元器件奠定基础.